微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法

微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法：

繼電保護(hù)測(cè)試儀的校準(zhǔn)通常需要專(zhuān)業(yè)的設(shè)備和技術(shù)人員，以下是一般的校準(zhǔn)方法：

外觀檢查

檢查測(cè)試儀的外觀是否有損壞、變形、按鍵是否靈活、顯示屏是否清晰等。

電壓、電流輸出精度校準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)源法：使用高精度的標(biāo)準(zhǔn)電壓源和電流源，將繼電保護(hù)測(cè)試儀的電壓、電流輸出與標(biāo)準(zhǔn)源進(jìn)行比較。通過(guò)調(diào)整測(cè)試儀內(nèi)部的校準(zhǔn)參數(shù)，使測(cè)試儀的輸出值與標(biāo)準(zhǔn)源的輸出值在規(guī)定的誤差范圍內(nèi)。例如，將測(cè)試儀的電壓輸出設(shè)置為不同的幅值，如 50V、100V、150V 等，用標(biāo)準(zhǔn)電壓源測(cè)量其實(shí)際輸出值，若誤差超出精度要求（如 ±0.5%），則需進(jìn)行調(diào)整。

比對(duì)法：如果沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)源，也可以使用另一臺(tái)已知精度較高的繼電保護(hù)測(cè)試儀作為參考標(biāo)準(zhǔn)，將兩臺(tái)測(cè)試儀的電壓、電流輸出進(jìn)行比對(duì)。在相同的設(shè)置下，比較兩者的輸出值差異，并對(duì)被校準(zhǔn)的測(cè)試儀進(jìn)行調(diào)整，使其輸出與參考測(cè)試儀的輸出盡量接近。

微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀相位精度校準(zhǔn)：

使用相位標(biāo)準(zhǔn)源或具有高精度相位測(cè)量功能的儀器，將繼電保護(hù)測(cè)試儀輸出的電壓、電流信號(hào)的相位與標(biāo)準(zhǔn)相位進(jìn)行對(duì)比。調(diào)整測(cè)試儀的相位校準(zhǔn)參數(shù)，使輸出信號(hào)的相位誤差在規(guī)定范圍內(nèi)，一般要求相位精度達(dá)到 ±1° 或更高。

時(shí)間精度校準(zhǔn)

對(duì)于繼電保護(hù)測(cè)試儀的動(dòng)作時(shí)間測(cè)量功能，可采用高精度的時(shí)間測(cè)量?jī)x器作為標(biāo)準(zhǔn)。觸發(fā)測(cè)試儀的動(dòng)作輸出，并記錄其動(dòng)作時(shí)間，與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間進(jìn)行比較。通過(guò)調(diào)整測(cè)試儀的時(shí)間校準(zhǔn)參數(shù)，使時(shí)間測(cè)量誤差滿(mǎn)足要求，通常時(shí)間精度應(yīng)達(dá)到 ±1ms 以?xún)?nèi)。

微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀功能測(cè)試：

對(duì)測(cè)試儀的各種功能進(jìn)行逐一測(cè)試，如模擬各種故障類(lèi)型的輸出、保護(hù)定值的設(shè)置與驗(yàn)證、通信功能等。確保測(cè)試儀的各項(xiàng)功能都能正常運(yùn)行，并且輸出結(jié)果符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)要求。




校準(zhǔn)完成后，需填寫(xiě)校準(zhǔn)記錄，包括校準(zhǔn)日期、校準(zhǔn)人員、校準(zhǔn)設(shè)備、校準(zhǔn)結(jié)果等信息，并對(duì)測(cè)試儀進(jìn)行標(biāo)識(shí)，表明其已通過(guò)校準(zhǔn)，在有效期內(nèi)可正常使用。需要注意的是，繼電保護(hù)測(cè)試儀的校準(zhǔn)應(yīng)按照相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)規(guī)范進(jìn)行，并且定期進(jìn)行校準(zhǔn)，以保證其測(cè)量精度和可靠性。如果測(cè)試儀出現(xiàn)故障或經(jīng)過(guò)維修后，也應(yīng)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。